{"id":2305,"date":"2021-05-24T13:47:30","date_gmt":"2021-05-24T10:47:30","guid":{"rendered":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/?page_id=2305"},"modified":"2021-05-24T13:47:30","modified_gmt":"2021-05-24T10:47:30","slug":"mikroscopy","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi","title":{"rendered":"Mikroskopia"},"content":{"rendered":"<p><strong>Mikroskopia<\/strong><\/p>\n<p><strong>Mikroskooppiset mittaukset<\/strong><\/p>\n<p>Tarjoamme monipuolisia mikroskopiamittauksia optisiin ja mekaanisiin sovelluksiin.<\/p>\n<p>Sovelluskohteisiin kuuluvat korkean resoluution pintamittaukset. Menetelm\u00e4t soveltuvat senttimetrikokoisille kiinteille kappaleille.<\/p>\n<p>Laitteistomme kattaa<\/p>\n<ul>\n<li>LEO 1550 elektronimikroskooppi (SEM)<\/li>\n<li>Leica LM DM optinen mikroskooppi<\/li>\n<li>Lukuisia Olympus-mikroskooppeja<\/li>\n<\/ul>\n<p>Palvelumyynniss\u00e4 noudatetaan It\u00e4-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.<\/p>\n<p>Yhteyshenkil\u00f6:<\/p>\n<p>Yli-insin\u00f6\u00f6ri Pertti P\u00e4\u00e4kk\u00f6nen<br \/>\npertti.paakkonen@uef.fi<br \/>\n0505056376<br \/>\nIt\u00e4-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Mikroskopia Mikroskooppiset mittaukset Tarjoamme monipuolisia mikroskopiamittauksia optisiin ja mekaanisiin sovelluksiin. Sovelluskohteisiin kuuluvat korkean resoluution pintamittaukset. Menetelm\u00e4t soveltuvat senttimetrikokoisille kiinteille kappaleille. Laitteistomme kattaa LEO 1550 elektronimikroskooppi (SEM) Leica LM DM optinen mikroskooppi Lukuisia Olympus-mikroskooppeja Palvelumyynniss\u00e4 noudatetaan It\u00e4-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua. Yhteyshenkil\u00f6: Yli-insin\u00f6\u00f6ri Pertti P\u00e4\u00e4kk\u00f6nen pertti.paakkonen@uef.fi 0505056376 It\u00e4-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu<\/p>\n","protected":false},"author":243,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"_acf_changed":false,"_monsterinsights_skip_tracking":false,"_monsterinsights_sitenote_active":false,"_monsterinsights_sitenote_note":"","_monsterinsights_sitenote_category":0,"footnotes":""},"class_list":["post-2305","page","type-page","status-publish","hentry"],"acf":[],"yoast_head":"<!-- This site is optimized with the Yoast SEO plugin v27.1.1 - https:\/\/yoast.com\/product\/yoast-seo-wordpress\/ -->\n<title>Mikroskopia - Center for Photonics Sciences<\/title>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"en_US\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"Mikroskopia - Center for Photonics Sciences\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"Mikroskopia Mikroskooppiset mittaukset Tarjoamme monipuolisia mikroskopiamittauksia optisiin ja mekaanisiin sovelluksiin. Sovelluskohteisiin kuuluvat korkean resoluution pintamittaukset. Menetelm\u00e4t soveltuvat senttimetrikokoisille kiinteille kappaleille. Laitteistomme kattaa LEO 1550 elektronimikroskooppi (SEM) Leica LM DM optinen mikroskooppi Lukuisia Olympus-mikroskooppeja Palvelumyynniss\u00e4 noudatetaan It\u00e4-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua. Yhteyshenkil\u00f6: Yli-insin\u00f6\u00f6ri Pertti P\u00e4\u00e4kk\u00f6nen pertti.paakkonen@uef.fi 0505056376 It\u00e4-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu\" \/>\n<meta property=\"og:url\" content=\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi\" \/>\n<meta property=\"og:site_name\" content=\"Center for Photonics Sciences\" \/>\n<meta name=\"twitter:card\" content=\"summary_large_image\" \/>\n<script type=\"application\/ld+json\" class=\"yoast-schema-graph\">{\"@context\":\"https:\/\/schema.org\",\"@graph\":[{\"@type\":\"WebPage\",\"@id\":\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi\",\"url\":\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi\",\"name\":\"Mikroskopia - Center for Photonics Sciences\",\"isPartOf\":{\"@id\":\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/#website\"},\"datePublished\":\"2021-05-24T10:47:30+00:00\",\"breadcrumb\":{\"@id\":\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi#breadcrumb\"},\"inLanguage\":\"en-US\",\"potentialAction\":[{\"@type\":\"ReadAction\",\"target\":[\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi\"]}]},{\"@type\":\"BreadcrumbList\",\"@id\":\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi#breadcrumb\",\"itemListElement\":[{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":1,\"name\":\"Home\",\"item\":\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/\"},{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":2,\"name\":\"Mikroskopia\"}]},{\"@type\":\"WebSite\",\"@id\":\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/#website\",\"url\":\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/\",\"name\":\"Center for Photonics Sciences\",\"description\":\"\",\"potentialAction\":[{\"@type\":\"SearchAction\",\"target\":{\"@type\":\"EntryPoint\",\"urlTemplate\":\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/?s={search_term_string}\"},\"query-input\":{\"@type\":\"PropertyValueSpecification\",\"valueRequired\":true,\"valueName\":\"search_term_string\"}}],\"inLanguage\":\"en-US\"}]}<\/script>\n<!-- \/ Yoast SEO plugin. -->","yoast_head_json":{"title":"Mikroskopia - Center for Photonics Sciences","robots":{"index":"index","follow":"follow","max-snippet":"max-snippet:-1","max-image-preview":"max-image-preview:large","max-video-preview":"max-video-preview:-1"},"canonical":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi","og_locale":"en_US","og_type":"article","og_title":"Mikroskopia - Center for Photonics Sciences","og_description":"Mikroskopia Mikroskooppiset mittaukset Tarjoamme monipuolisia mikroskopiamittauksia optisiin ja mekaanisiin sovelluksiin. Sovelluskohteisiin kuuluvat korkean resoluution pintamittaukset. Menetelm\u00e4t soveltuvat senttimetrikokoisille kiinteille kappaleille. Laitteistomme kattaa LEO 1550 elektronimikroskooppi (SEM) Leica LM DM optinen mikroskooppi Lukuisia Olympus-mikroskooppeja Palvelumyynniss\u00e4 noudatetaan It\u00e4-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua. Yhteyshenkil\u00f6: Yli-insin\u00f6\u00f6ri Pertti P\u00e4\u00e4kk\u00f6nen pertti.paakkonen@uef.fi 0505056376 It\u00e4-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu","og_url":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi","og_site_name":"Center for Photonics Sciences","twitter_card":"summary_large_image","schema":{"@context":"https:\/\/schema.org","@graph":[{"@type":"WebPage","@id":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi","url":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi","name":"Mikroskopia - Center for Photonics Sciences","isPartOf":{"@id":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/#website"},"datePublished":"2021-05-24T10:47:30+00:00","breadcrumb":{"@id":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi#breadcrumb"},"inLanguage":"en-US","potentialAction":[{"@type":"ReadAction","target":["https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi"]}]},{"@type":"BreadcrumbList","@id":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/mikroscopy\/?lang=fi#breadcrumb","itemListElement":[{"@type":"ListItem","position":1,"name":"Home","item":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/"},{"@type":"ListItem","position":2,"name":"Mikroskopia"}]},{"@type":"WebSite","@id":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/#website","url":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/","name":"Center for Photonics Sciences","description":"","potentialAction":[{"@type":"SearchAction","target":{"@type":"EntryPoint","urlTemplate":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/?s={search_term_string}"},"query-input":{"@type":"PropertyValueSpecification","valueRequired":true,"valueName":"search_term_string"}}],"inLanguage":"en-US"}]}},"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2305","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/users\/243"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=2305"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2305\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":2308,"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2305\/revisions\/2308"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2305"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}