{"id":2474,"date":"2021-05-25T14:23:10","date_gmt":"2021-05-25T11:23:10","guid":{"rendered":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/?page_id=2474"},"modified":"2023-12-19T14:05:59","modified_gmt":"2023-12-19T12:05:59","slug":"measuring-and-imaging","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/measuring-and-imaging\/?lang=fi","title":{"rendered":"Mittaus ja kuvantaminen"},"content":{"rendered":"\n<h2 class=\"wp-block-heading\"><strong>Mittauspalvelut<\/strong><\/h2>\n\n\n\t<div id=\"accordion-block_76444b3a254777eabaf3f22e24215da0\" class=\"accordions\">\n\t\t\t\t\t<div class=\"accordion accordion-js\">\n\t\t\t\t<button class=\"accordion__button\" aria-controls=\"content-5868\" aria-expanded=\"false\" id=\"accordion-control-5868\">\n\t\t\t\t\t<h3 class=\"accordion__heading\" >\n\t\t\t\t\t\t Profilometriset mittaukset ja analyysit\t\t\t\t\t<\/h3>\n\t\t\t\t<\/button>\n\t\t\t\t<div class=\"accordion__content\" role=\"region\" aria-labelledby=\"accordion-control-5868\" aria-hidden=\"true\" id=\"content-5868\">\n\t\t\t\t\t<p>Tarjoamme pinnan muodon sek\u00e4 pinnan laadun mittausta optisiin ja mekaanisiin sovelluksiin<\/p>\n<p>K\u00e4yt\u00e4mme valkoisen valon interferometi\u00e4 sek\u00e4 stylus-profilmetri\u00e4 pintojen mittaamiseen.<\/p>\n<p>Sovelluskohteisiin kuuluvat optisten tai mekaanisten kappaleiden pinnan muodon ja laadun m\u00e4\u00e4ritt\u00e4minen nanometritason mittaustarkkuudella. Menetelm\u00e4t sopivat liev\u00e4sti kaareville, senttimetrikokoisille pinnoille joko l\u00e4pin\u00e4kyville tai l\u00e4pin\u00e4kym\u00e4tt\u00f6mille kappaleille.<\/p>\n<p>Laitteistomme kattaa<\/p>\n<ul>\n<li>WYKO NT9300 optinen profilometri Phase Shift Interferometriall tai Vertival Scan Interferometrialla. Mittausalue ja tarkkuus riippuvat mitattavasta kappaleesta ja k\u00e4ytett\u00e4v\u00e4st\u00e4 mittausmenetelm\u00e4st\u00e4.<\/li>\n<li>Veeco Dektak 150 stylus profilometri. Suurin mittausalue 1 mm ja mittaustarkkuus 0,13 %.<\/li>\n<li><span lang=\"EN-US\">Panasonic UA3P 3100 korkean tarkkuuden 3D-pintaprofilometri.<\/span><\/li>\n<\/ul>\n<p>Korkealuokkainen koordinaattimittauskone\/pintaprofiilin mittauslaite k\u00e4ytett\u00e4viss\u00e4 vuonna 2022.<\/p>\n<p>Palvelumyynniss\u00e4 noudatetaan It\u00e4-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.<\/p>\n<p>Yhteyshenkil\u00f6:<\/p>\n<p>Pertti P\u00e4\u00e4kk\u00f6nen, yli-insin\u00f6\u00f6ri<br \/>\ne-mail:\u00a0<a href=\"mailto:pertti.paakkonen@uef.fi\">pertti.paakkonen@uef.fi<\/a><br \/>\npuh. 050 505 6376<br \/>\n<a href=\"https:\/\/uefconnect.uef.fi\/henkilo\/pertti.paakkonen\/\">Pertti P\u00e4\u00e4kk\u00f6nen \u2013 UEF Connect<\/a><br \/>\nIt\u00e4-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu<\/p>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\n\n\t<div id=\"accordion-block_03044731c2659b7e0419b9500487db48\" class=\"accordions\">\n\t\t\t\t\t<div class=\"accordion accordion-js\">\n\t\t\t\t<button class=\"accordion__button\" aria-controls=\"content-6170\" aria-expanded=\"false\" id=\"accordion-control-6170\">\n\t\t\t\t\t<h3 class=\"accordion__heading\" >\n\t\t\t\t\t\tMikroskooppiset mittaukset ja analyysit\t\t\t\t\t<\/h3>\n\t\t\t\t<\/button>\n\t\t\t\t<div class=\"accordion__content\" role=\"region\" aria-labelledby=\"accordion-control-6170\" aria-hidden=\"true\" id=\"content-6170\">\n\t\t\t\t\t<p>Tarjoamme monipuolisia mikroskopiamittauksia optisiin ja mekaanisiin sovelluksiin.<\/p>\n<p>Sovelluskohteisiin kuuluvat korkean resoluution pintamittaukset. Menetelm\u00e4t soveltuvat senttimetrikokoisille kiinteille kappaleille.<\/p>\n<p>Laitteistomme kattaa<\/p>\n<ul>\n<li>LEO 1550 elektronimikroskooppi (SEM)<\/li>\n<li>Leica LM DM optinen mikroskooppi<\/li>\n<li>Lukuisia Olympus-mikroskooppeja<\/li>\n<\/ul>\n<p>Palvelumyynniss\u00e4 noudatetaan It\u00e4-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.<\/p>\n<p>Yhteyshenkil\u00f6:<\/p>\n<p>Pertti P\u00e4\u00e4kk\u00f6nen, yli-insin\u00f6\u00f6ri<br \/>\ne-mail:\u00a0<a href=\"mailto:pertti.paakkonen@uef.fi\">pertti.paakkonen@uef.fi<\/a><br \/>\npuh. 050 505 6376<br \/>\n<a href=\"https:\/\/uefconnect.uef.fi\/henkilo\/pertti.paakkonen\/\">Pertti P\u00e4\u00e4kk\u00f6nen \u2013 UEF Connect<\/a><br \/>\nIt\u00e4-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu<\/p>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\n\n\t<div id=\"accordion-block_182edec1b5dbeb00bed92dcb0dc9900c\" class=\"accordions\">\n\t\t\t\t\t<div class=\"accordion accordion-js\">\n\t\t\t\t<button class=\"accordion__button\" aria-controls=\"content-7479\" aria-expanded=\"false\" id=\"accordion-control-7479\">\n\t\t\t\t\t<h3 class=\"accordion__heading\" >\n\t\t\t\t\t\t Spektrimittaukset\t\t\t\t\t<\/h3>\n\t\t\t\t<\/button>\n\t\t\t\t<div class=\"accordion__content\" role=\"region\" aria-labelledby=\"accordion-control-7479\" aria-hidden=\"true\" id=\"content-7479\">\n\t\t\t\t\t<p>Tarjoamme luotettavia spektrimittauspalveluja ja tarkkoja v\u00e4rim\u00e4\u00e4rityksi\u00e4 kiinteist\u00e4 ja nestem\u00e4isist\u00e4 n\u00e4ytteist\u00e4. Mittaamme n\u00e4ytteiden optisia heijastus-, l\u00e4p\u00e4isy- ja absorptio-ominaisuuksia suurella tarkkuudella ultraviolettis\u00e4teilyn, n\u00e4kyv\u00e4n valon ja infrapunas\u00e4teilyn aallonpituusalueilla. Tarjoamme my\u00f6s fluoresenssimittauksia ultraviolettis\u00e4teilyn ja n\u00e4kyv\u00e4n valon aallonpituuksilla.<\/p>\n<p>Asiantuntija laskennallisen spektrikuvantamisen tutkimusryhm\u00e4st\u00e4 suorittaa kaikki mittaukset puolestanne.<\/p>\n<p>Voimme mitata 3 n\u00e4ytett\u00e4\/tunti (t\u00e4yden aallonpituusalueen mittaus). Kaikki mittaukset tehd\u00e4\u00e4n optisesti, joten mittaukset eiv\u00e4t vahingoita n\u00e4ytteit\u00e4. Mitattavan n\u00e4ytteen tyypillinen koko on muutama cm<sup>2<\/sup>.<\/p>\n<p>Mittauksista saatavaa tietoa voidaan k\u00e4ytt\u00e4\u00e4 mm. valaistusten ja optisten filttereiden suunnitteluun, halutun kohteen optimaaliseen havaitsemiseen erilaisissa konen\u00e4k\u00f6sovelluksissa, tuotteiden valon heijastus- ja l\u00e4p\u00e4isyominaisuuksien m\u00e4\u00e4ritt\u00e4miseen eri aallonpituusalueilla, tuotteen v\u00e4rin suunnittelemiseen erilaisille havaitsijoille eri valaistuksissa, sek\u00e4 tuotteiden fluoresenssiominaisuuksien suunnittelemiseen.<\/p>\n<ul>\n<li>PerkinElmer Lambda 1050 spektrofotometri (spektrimittaukset: reflektanssi, transmittanssi, ja absorbanssi; 175 \u2013 2500 nm)<\/li>\n<li>PerkinElmer FL-8500 spektrofluorometri (spektrimittaukset: fluoresenssi; 200 \u2013 900 nm)<\/li>\n<li><span lang=\"EN-US\">Konica-Minolta CL-2000A spektroradiometri (380 \u2013 780 nm)<\/span><\/li>\n<\/ul>\n<p>Palvelumyynniss\u00e4 noudatetaan It\u00e4-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.<\/p>\n<p>Yhteyshenkil\u00f6:<\/p>\n<p>Dmitry Semenov, tutkimusp\u00e4\u00e4llikk\u00f6<br \/>\nemail: dmitry.semenov@uef.fi<br \/>\npuh. 050 304 3941<br \/>\n<a href=\"https:\/\/uefconnect.uef.fi\/henkilo\/dmitri.semenov\/\">Dmitry Semenov \u2013 UEF Connect<\/a><br \/>\nIt\u00e4-Suomen yliopisto, Tietojenk\u00e4sittelytieteen laitos<br \/>\nL\u00e4nsikatu 15, 80110 Joensuu<\/p>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\n\n\t<div id=\"accordion-block_1ea0f460297a37b4323f516faa30dd22\" class=\"accordions\">\n\t\t\t\t\t<div class=\"accordion accordion-js\">\n\t\t\t\t<button class=\"accordion__button\" aria-controls=\"content-3357\" aria-expanded=\"false\" id=\"accordion-control-3357\">\n\t\t\t\t\t<h3 class=\"accordion__heading\" >\n\t\t\t\t\t\t Ellipsometriset materiaalianalyysit\t\t\t\t\t<\/h3>\n\t\t\t\t<\/button>\n\t\t\t\t<div class=\"accordion__content\" role=\"region\" aria-labelledby=\"accordion-control-3357\" aria-hidden=\"true\" id=\"content-3357\">\n\t\t\t\t\t<p>Tarjoamme ellipsometrimittauksia ohuiden kalvojen rakenteiden ja optisten ominaisuuksien m\u00e4\u00e4ritt\u00e4miseen.<\/p>\n<p>K\u00e4yt\u00f6ss\u00e4mme on n\u00e4kyv\u00e4n alueen ja l\u00e4hi-infrapunan spektraalinen ellipsometri materiaalien optisten ominaisuuksien ja ohuiden kalvojen paksuuksien mittaamiseen.<\/p>\n<p>Sovelluskohteisiin kuuluvat ohuet optiset ja metalliset kalvot. Ohut kalvo tarkoittaa yleens\u00e4 alle 5 mikrometrin paksuutta.<\/p>\n<p>Laitteistomme kattaa<\/p>\n<ul>\n<li>A. Woollam VASE spektraalinen ellipsometri 260 \u2013 2060 nm aaltopituusalueella.<\/li>\n<\/ul>\n<p>Palvelumyynniss\u00e4 noudatetaan It\u00e4-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.<\/p>\n<p>Yhteyshenkil\u00f6:<\/p>\n<p>Pertti P\u00e4\u00e4kk\u00f6nen, yli-insin\u00f6\u00f6ri<br \/>\ne-mail:\u00a0<a href=\"mailto:pertti.paakkonen@uef.fi\">pertti.paakkonen@uef.fi<\/a><br \/>\npuh. 050 505 6376<br \/>\n<a href=\"https:\/\/uefconnect.uef.fi\/henkilo\/pertti.paakkonen\/\">Pertti P\u00e4\u00e4kk\u00f6nen \u2013 UEF Connect<\/a><br \/>\nIt\u00e4-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu<\/p>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\"><strong>Kuvantaminen<\/strong><\/h2>\n\n\n\t<div id=\"accordion-block_29b22d6b0f4b1e5f37775402237e3a65\" class=\"accordions\">\n\t\t\t\t\t<div class=\"accordion accordion-js\">\n\t\t\t\t<button class=\"accordion__button\" aria-controls=\"content-4386\" aria-expanded=\"false\" id=\"accordion-control-4386\">\n\t\t\t\t\t<h3 class=\"accordion__heading\" >\n\t\t\t\t\t\t Biologinen ja ymp\u00e4rist\u00f6tieteellinen kuvantamispalvelu\t\t\t\t\t<\/h3>\n\t\t\t\t<\/button>\n\t\t\t\t<div class=\"accordion__content\" role=\"region\" aria-labelledby=\"accordion-control-4386\" aria-hidden=\"true\" id=\"content-4386\">\n\t\t\t\t\t<p>Tarjoamme erilaisia mittaus- ja kuvantamispalveluja erityisesti biologisiin ja ymp\u00e4rist\u00f6tieteellisiin sovelluksiin liittyen. Kattava laboratoriomme mahdollistaa mm. , spektrikuvantamisen, kineettisen klorofyllifluoresenssin kuvantamisen fotosynteesin toiminnan selvitt\u00e4miseen, UV-kuvauksen ja erilaiset fluoresenssikuvausmenetelm\u00e4t. Runsas valol\u00e4hdevalikoima mahdollistaa mittaukset ja kuvantamisen n\u00e4kyv\u00e4n valon, sek\u00e4 ultravioletti- ja infrapunas\u00e4teilyn aallonpituusalueilla. Sovellusalueita ovat mm. kasvien fenotyypitys ja ekofysiologiset tutkimukset, kasvien stressivasteiden selvitt\u00e4minen, biopohjaisten tuotteiden tai valmisteiden laadunseuranta ja kemiallinen kuvantaminen.<\/p>\n<p>Mittauslaboratorioomme kuuluvat mm. seuraavat laitteet:<\/p>\n<ul>\n<li>Viivaspektrikamerat Headwall UV (250 \u2013 600 nm), Specim VNIR (400 \u2013 1000 nm), SWIR (1000 \u2013 2500 nm) ja MWIR (3000 \u2013 5000 nm)<\/li>\n<li>L\u00e4mp\u00f6kamerat FLIR E8<\/li>\n<li>Klorofyllifluoresenssin kuvantamis- ja mittauslaitteet PSI Closed FluorCam 800MF, Handy FluorCam FC1000H, Micro FluorCam, ja FluorPen<\/li>\n<li>Klorofylli-, flavonoli- ja antosyaani-indeksien mittauslaite Dualex Scientific+<\/li>\n<li>Muunnetut j\u00e4rjestelm\u00e4kamerat Nikon D7000 (n\u00e4kyv\u00e4 + infrapuna, 400 \u2013 1000 nm) ja Nikon D7000 (vain ultravioletti, 300 \u2013 400 nm)<\/li>\n<li>Motorisoitu makroskooppi Leica Z6 APO<\/li>\n<li>Fluoresenssimikroskooppi Zeiss Axioscope A1<\/li>\n<li>Herkk\u00e4 EMCCD-kamera nestej\u00e4\u00e4hdytyksell\u00e4 (Andor iXon Ultra 888)<\/li>\n<li>sCMOS-kamera (Andor Zyla)<\/li>\n<li>Muokattu CCD-kamera UV-kuvaukseen (Andor iKon-M, 200 \u2013 1000 nm)<\/li>\n<li>S\u00e4\u00e4dett\u00e4v\u00e4 kapeakaistainen (15 nm FWHM 1nm askelin) Xenon-valol\u00e4hde nestevalojohtimilla (338 \u2013 700 nm + IR)<\/li>\n<li>Laaja valikoima tehokkaita UV ja Vis-LEDej\u00e4<\/li>\n<li>Erikoisobjektiiveja, kuten UV makro Nikon Rayfact 105\/4.5 ja Specim OLES makro-objektiivi spektrikuvaukseen SWIR-alueella<\/li>\n<\/ul>\n<p>Yhteyshenkil\u00f6:<\/p>\n<p>Markku Kein\u00e4nen, professori, tutkimusp\u00e4\u00e4llikk\u00f6<br \/>\nemail: markku.keinanen@uef.fi<br \/>\npuh. 050 4422581<br \/>\n<a href=\"https:\/\/uefconnect.uef.fi\/henkilo\/markku.keinanen\/\">Markku Kein\u00e4nen &#8211; UEF Connect<\/a><br \/>\nIt\u00e4-Suomen yliopisto, Ymp\u00e4rist\u00f6- ja biotieteiden laitos (Natura)<br \/>\nYliopistokatu 7, 80100 Joensuu<\/p>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\n\n\t<div id=\"accordion-block_0c60e5e703c77a890475c23c7b97400c\" class=\"accordions\">\n\t\t\t\t\t<div class=\"accordion accordion-js\">\n\t\t\t\t<button class=\"accordion__button\" aria-controls=\"content-6922\" aria-expanded=\"false\" id=\"accordion-control-6922\">\n\t\t\t\t\t<h3 class=\"accordion__heading\" >\n\t\t\t\t\t\t Biol\u00e4\u00e4ketieteellinen optinen kuvantaminen ja ultra\u00e4\u00e4ni\t\t\t\t\t<\/h3>\n\t\t\t\t<\/button>\n\t\t\t\t<div class=\"accordion__content\" role=\"region\" aria-labelledby=\"accordion-control-6922\" aria-hidden=\"true\" id=\"content-6922\">\n\t\t\t\t\t<p>Tarjoamme 3D-hydrofonimittauksia ultra\u00e4\u00e4nikenttien yksityiskohtaisen rakenteen ja suuruuden m\u00e4\u00e4ritt\u00e4miseen. Tarjoamme palveluita liittyen materiaalien akustiseen karakterisointiin, kuten \u00e4\u00e4nennopeuden ja vaimenemisen m\u00e4\u00e4ritt\u00e4minen.<\/p>\n<p>Laboratoriomme laitteistoa ovat muun muassa:<\/p>\n<ul>\n<li>Moottoroitu 3D-liikutin, liikutustarkkuus mikrometriluokassa<\/li>\n<li>Hydrofoneja MHz-taajuuksille ja ultra\u00e4\u00e4niantureita taajuusalueella 0.5 MHz \u2013 12 MHz<\/li>\n<li>Ultra\u00e4\u00e4nen l\u00e4hetys- ja -vastaanottoelektroniikka<\/li>\n<li>Laservibrometri pintojen v\u00e4r\u00e4htelynopeuden ja -siirroksen mittaukseen 10 MHz taajuuteen asti<\/li>\n<li>RF-generaattoreita ja -vahvistimia<\/li>\n<li>Korkean erottelukyvyn oskilloskooppi<\/li>\n<\/ul>\n<p>Lis\u00e4tietoja:\u00a0<a href=\"https:\/\/sites.uef.fi\/opus\/\">https:\/\/sites.uef.fi\/opus\/<\/a><\/p>\n<p>Palvelumyynniss\u00e4 noudatetaan It\u00e4-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.<\/p>\n<p>Yhteyshenkil\u00f6:<\/p>\n<p>Jarkko Leskinen, projektitutkija<br \/>\nemail: jarkko.leskinen@uef.fi<br \/>\npuh. 040 355 2058<br \/>\n<a href=\"https:\/\/uefconnect.uef.fi\/henkilo\/jarkko.leskinen\/\">Jarkko Leskinen &#8211; UEF Connect<\/a><br \/>\nIt\u00e4-Suomen yliopisto, sovelletun fysiikan laitos<br \/>\nYliopistonranta 1 F, 70210 Kuopio<\/p>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\n\n\t<div id=\"accordion-block_cd942e206028ffe4fc2d5793bd3fc137\" class=\"accordions\">\n\t\t\t\t\t<div class=\"accordion accordion-js\">\n\t\t\t\t<button class=\"accordion__button\" aria-controls=\"content-7784\" aria-expanded=\"false\" id=\"accordion-control-7784\">\n\t\t\t\t\t<h3 class=\"accordion__heading\" >\n\t\t\t\t\t\t Spektrikuvantaminen\t\t\t\t\t<\/h3>\n\t\t\t\t<\/button>\n\t\t\t\t<div class=\"accordion__content\" role=\"region\" aria-labelledby=\"accordion-control-7784\" aria-hidden=\"true\" id=\"content-7784\">\n\t\t\t\t\t<p>Tarjoamme luotettavia spektrikuvantamispalveluja ja tarkkoja v\u00e4rim\u00e4\u00e4rityksi\u00e4 kiinteist\u00e4 n\u00e4ytteist\u00e4. Mittaamme n\u00e4ytteiden optisia valon heijastusominaisuuksia (reflektanssipektrikuvia) suurella tarkkuudella n\u00e4kyv\u00e4n valon ja l\u00e4hi-infrapunas\u00e4teilyn aallonpituusalueilla. Osa spektrikameroistamme on kannettavia.<\/p>\n<p>Asiantuntija laskennallisen spektrikuvantamisen tutkimusryhm\u00e4st\u00e4 suorittaa kaikki mittaukset puolestanne.<\/p>\n<p>Kaikki mittaukset tehd\u00e4\u00e4n optisesti, joten mittaukset eiv\u00e4t vahingoita n\u00e4ytteit\u00e4. Kuvattavan n\u00e4ytteen tyypillinen koko: muutama cm<sup>2<\/sup>\u00a0\u2013 1 m<sup>2<\/sup>.<\/p>\n<p>Mittauksista saatavaa tietoa voidaan k\u00e4ytt\u00e4\u00e4 mm. valaistusten ja optisten filttereiden suunnitteluun, halutun kohteen optimaaliseen havaitsemiseen erilaisissa konen\u00e4k\u00f6sovelluksissa, tuotteiden valon heijastusominaisuuksien m\u00e4\u00e4ritt\u00e4miseen eri aallonpituusalueilla, sek\u00e4 tuotteen v\u00e4rin suunnittelemiseen erilaisille havaitsijoille eri valaistuksissa.<\/p>\n<ul>\n<li>Specim V10E skannaava spektrikamera (skannausviiva: 2144 pikseli\u00e4; 400 \u2013 1000 nm, 1080 spektrikanavaa)<\/li>\n<li>Specim N25 skannaava spektrikamera (skannausviiva: 320 pikseli\u00e4; 1000 \u2013 2500 nm, 250 spektrikanavaa)<\/li>\n<li>Nuance EX kannettava spektrikamera (1392 x 1040 pikseli\u00e4; 450 \u2013 950 nm, 51 spektrikanavaa)<\/li>\n<li>Specim IQ kannettava spektrikamera (512 x 512 pikseli\u00e4; 400 \u2013 1000 nm, 204 spektrikanavaa)<\/li>\n<li>FluxData FD-1665-MS7 spektrivideokamera (1392 x 1040 pikseli\u00e4; 400 \u2013 950 nm, 7 spektrikanavaa; 30 kuvaa\/s)<\/li>\n<\/ul>\n<p>Palvelumyynniss\u00e4 noudatetaan It\u00e4-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.<\/p>\n<p>Yhteyshenkil\u00f6:<\/p>\n<p>Dmitry Semenov, tutkimusp\u00e4\u00e4llikk\u00f6<br \/>\nemail: dmitry.semenov@uef.fi<br \/>\npuh. 050 304 3941<br \/>\n<a href=\"https:\/\/uefconnect.uef.fi\/henkilo\/dmitri.semenov\/\">Dmitry Semenov \u2013 UEF Connect<\/a><br \/>\nIt\u00e4-Suomen yliopisto, Tietojenk\u00e4sittelytieteen laitos<br \/>\nL\u00e4nsikatu 15, 80110 Joensuu<\/p>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t\t\t<\/div>\n\t","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Mittauspalvelut Kuvantaminen<\/p>\n","protected":false},"author":243,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"_acf_changed":false,"_monsterinsights_skip_tracking":false,"_monsterinsights_sitenote_active":false,"_monsterinsights_sitenote_note":"","_monsterinsights_sitenote_category":0,"footnotes":""},"class_list":["post-2474","page","type-page","status-publish","hentry"],"acf":[],"yoast_head":"<!-- This site is optimized with the Yoast SEO plugin v27.3 - https:\/\/yoast.com\/product\/yoast-seo-wordpress\/ -->\n<title>Mittaus ja kuvantaminen - Center for Photonics Sciences<\/title>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/measuring-and-imaging\/?lang=fi\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"en_US\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"Mittaus ja kuvantaminen - Center for Photonics Sciences\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"Mittauspalvelut Kuvantaminen\" \/>\n<meta property=\"og:url\" content=\"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/measuring-and-imaging\/?lang=fi\" \/>\n<meta property=\"og:site_name\" content=\"Center for Photonics Sciences\" \/>\n<meta property=\"article:modified_time\" content=\"2023-12-19T12:05:59+00:00\" \/>\n<meta name=\"twitter:card\" content=\"summary_large_image\" \/>\n<script type=\"application\/ld+json\" class=\"yoast-schema-graph\">{\"@context\":\"https:\\\/\\\/schema.org\",\"@graph\":[{\"@type\":\"WebPage\",\"@id\":\"https:\\\/\\\/sites.uef.fi\\\/photonics\\\/measuring-and-imaging\\\/?lang=fi\",\"url\":\"https:\\\/\\\/sites.uef.fi\\\/photonics\\\/measuring-and-imaging\\\/?lang=fi\",\"name\":\"Mittaus ja kuvantaminen - Center for Photonics Sciences\",\"isPartOf\":{\"@id\":\"https:\\\/\\\/sites.uef.fi\\\/photonics\\\/#website\"},\"datePublished\":\"2021-05-25T11:23:10+00:00\",\"dateModified\":\"2023-12-19T12:05:59+00:00\",\"breadcrumb\":{\"@id\":\"https:\\\/\\\/sites.uef.fi\\\/photonics\\\/measuring-and-imaging\\\/?lang=fi#breadcrumb\"},\"inLanguage\":\"en-US\",\"potentialAction\":[{\"@type\":\"ReadAction\",\"target\":[\"https:\\\/\\\/sites.uef.fi\\\/photonics\\\/measuring-and-imaging\\\/?lang=fi\"]}]},{\"@type\":\"BreadcrumbList\",\"@id\":\"https:\\\/\\\/sites.uef.fi\\\/photonics\\\/measuring-and-imaging\\\/?lang=fi#breadcrumb\",\"itemListElement\":[{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":1,\"name\":\"Home\",\"item\":\"https:\\\/\\\/sites.uef.fi\\\/photonics\\\/\"},{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":2,\"name\":\"Mittaus ja kuvantaminen\"}]},{\"@type\":\"WebSite\",\"@id\":\"https:\\\/\\\/sites.uef.fi\\\/photonics\\\/#website\",\"url\":\"https:\\\/\\\/sites.uef.fi\\\/photonics\\\/\",\"name\":\"Center for Photonics Sciences\",\"description\":\"\",\"potentialAction\":[{\"@type\":\"SearchAction\",\"target\":{\"@type\":\"EntryPoint\",\"urlTemplate\":\"https:\\\/\\\/sites.uef.fi\\\/photonics\\\/?s={search_term_string}\"},\"query-input\":{\"@type\":\"PropertyValueSpecification\",\"valueRequired\":true,\"valueName\":\"search_term_string\"}}],\"inLanguage\":\"en-US\"}]}<\/script>\n<!-- \/ Yoast SEO plugin. -->","yoast_head_json":{"title":"Mittaus ja kuvantaminen - Center for Photonics Sciences","robots":{"index":"index","follow":"follow","max-snippet":"max-snippet:-1","max-image-preview":"max-image-preview:large","max-video-preview":"max-video-preview:-1"},"canonical":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/measuring-and-imaging\/?lang=fi","og_locale":"en_US","og_type":"article","og_title":"Mittaus ja kuvantaminen - Center for Photonics Sciences","og_description":"Mittauspalvelut Kuvantaminen","og_url":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/measuring-and-imaging\/?lang=fi","og_site_name":"Center for Photonics Sciences","article_modified_time":"2023-12-19T12:05:59+00:00","twitter_card":"summary_large_image","schema":{"@context":"https:\/\/schema.org","@graph":[{"@type":"WebPage","@id":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/measuring-and-imaging\/?lang=fi","url":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/measuring-and-imaging\/?lang=fi","name":"Mittaus ja kuvantaminen - Center for Photonics Sciences","isPartOf":{"@id":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/#website"},"datePublished":"2021-05-25T11:23:10+00:00","dateModified":"2023-12-19T12:05:59+00:00","breadcrumb":{"@id":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/measuring-and-imaging\/?lang=fi#breadcrumb"},"inLanguage":"en-US","potentialAction":[{"@type":"ReadAction","target":["https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/measuring-and-imaging\/?lang=fi"]}]},{"@type":"BreadcrumbList","@id":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/measuring-and-imaging\/?lang=fi#breadcrumb","itemListElement":[{"@type":"ListItem","position":1,"name":"Home","item":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/"},{"@type":"ListItem","position":2,"name":"Mittaus ja kuvantaminen"}]},{"@type":"WebSite","@id":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/#website","url":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/","name":"Center for Photonics Sciences","description":"","potentialAction":[{"@type":"SearchAction","target":{"@type":"EntryPoint","urlTemplate":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/?s={search_term_string}"},"query-input":{"@type":"PropertyValueSpecification","valueRequired":true,"valueName":"search_term_string"}}],"inLanguage":"en-US"}]}},"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2474","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/users\/243"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=2474"}],"version-history":[{"count":2,"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2474\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":8749,"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2474\/revisions\/8749"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/sites.uef.fi\/photonics\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2474"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}