Profilometria

Profilometria

Tarjoamme pinnan muodon sekä pinnan laadun mittausta optisiin ja mekaanisiin sovelluksiin

Käytämme valkoisen valon interferometiä sekä stylus-profilmetriä pintojen mittaamiseen.

Sovelluskohteisiin kuuluvat optisten tai mekaanisten kappaleiden pinnan muodon ja laadun määrittäminen nanometritason mittaustarkkuudella. Menetelmät sopivat lievästi kaareville, senttimetrikokoisille pinnoille joko läpinäkyville tai läpinäkymättömille kappaleille.

Laitteistomme kattaa

• WYKO NT9300 optinen profilometri Phase Shift Interferometriall tai Vertival Scan Interferometrialla. Mittausalue ja tarkkuus riippuvat mitattavasta kappaleesta ja käytettävästä mittausmenetelmästä.
• Veeco Dektak 150 stylus profilometri. Suurin mittausalue 1 mm ja mittaustarkkuus 0,13 %.

Korkealuokkainen koordinaattimittauskone/pintaprofiilin mittauslaite käytettävissä vuonna 2022.

Palvelumyynnissä noudatetaan Itä-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.

Yhteyshenkilö:

Yli-insinööri Pertti Pääkkönen
pertti.paakkonen@uef.fi
0505056376
Itä-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu