Mittaus ja kuvantaminen
Mittauspalvelut
Tarjoamme pinnan muodon sekä pinnan laadun mittausta optisiin ja mekaanisiin sovelluksiin
Käytämme valkoisen valon interferometiä sekä stylus-profilmetriä pintojen mittaamiseen.
Sovelluskohteisiin kuuluvat optisten tai mekaanisten kappaleiden pinnan muodon ja laadun määrittäminen nanometritason mittaustarkkuudella. Menetelmät sopivat lievästi kaareville, senttimetrikokoisille pinnoille joko läpinäkyville tai läpinäkymättömille kappaleille.
Laitteistomme kattaa
- WYKO NT9300 optinen profilometri Phase Shift Interferometriall tai Vertival Scan Interferometrialla. Mittausalue ja tarkkuus riippuvat mitattavasta kappaleesta ja käytettävästä mittausmenetelmästä.
- Veeco Dektak 150 stylus profilometri. Suurin mittausalue 1 mm ja mittaustarkkuus 0,13 %.
- Panasonic UA3P 3100 korkean tarkkuuden 3D-pintaprofilometri.
Korkealuokkainen koordinaattimittauskone/pintaprofiilin mittauslaite käytettävissä vuonna 2022.
Palvelumyynnissä noudatetaan Itä-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.
Yhteyshenkilö:
Pertti Pääkkönen, yli-insinööri
e-mail: pertti.paakkonen@uef.fi
puh. 050 505 6376
Pertti Pääkkönen – UEF Connect
Itä-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu
Tarjoamme monipuolisia mikroskopiamittauksia optisiin ja mekaanisiin sovelluksiin.
Sovelluskohteisiin kuuluvat korkean resoluution pintamittaukset. Menetelmät soveltuvat senttimetrikokoisille kiinteille kappaleille.
Laitteistomme kattaa
- LEO 1550 elektronimikroskooppi (SEM)
- Leica LM DM optinen mikroskooppi
- Lukuisia Olympus-mikroskooppeja
Palvelumyynnissä noudatetaan Itä-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.
Yhteyshenkilö:
Pertti Pääkkönen, yli-insinööri
e-mail: pertti.paakkonen@uef.fi
puh. 050 505 6376
Pertti Pääkkönen – UEF Connect
Itä-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu
Tarjoamme luotettavia spektrimittauspalveluja ja tarkkoja värimäärityksiä kiinteistä ja nestemäisistä näytteistä. Mittaamme näytteiden optisia heijastus-, läpäisy- ja absorptio-ominaisuuksia suurella tarkkuudella ultraviolettisäteilyn, näkyvän valon ja infrapunasäteilyn aallonpituusalueilla. Tarjoamme myös fluoresenssimittauksia ultraviolettisäteilyn ja näkyvän valon aallonpituuksilla.
Asiantuntija laskennallisen spektrikuvantamisen tutkimusryhmästä suorittaa kaikki mittaukset puolestanne.
Voimme mitata 3 näytettä/tunti (täyden aallonpituusalueen mittaus). Kaikki mittaukset tehdään optisesti, joten mittaukset eivät vahingoita näytteitä. Mitattavan näytteen tyypillinen koko on muutama cm2.
Mittauksista saatavaa tietoa voidaan käyttää mm. valaistusten ja optisten filttereiden suunnitteluun, halutun kohteen optimaaliseen havaitsemiseen erilaisissa konenäkösovelluksissa, tuotteiden valon heijastus- ja läpäisyominaisuuksien määrittämiseen eri aallonpituusalueilla, tuotteen värin suunnittelemiseen erilaisille havaitsijoille eri valaistuksissa, sekä tuotteiden fluoresenssiominaisuuksien suunnittelemiseen.
- PerkinElmer Lambda 1050 spektrofotometri (spektrimittaukset: reflektanssi, transmittanssi, ja absorbanssi; 175 – 2500 nm)
- PerkinElmer FL-8500 spektrofluorometri (spektrimittaukset: fluoresenssi; 200 – 900 nm)
- Konica-Minolta CL-2000A spektroradiometri (380 – 780 nm)
Palvelumyynnissä noudatetaan Itä-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.
Yhteyshenkilö:
Dmitry Semenov, tutkimuspäällikkö
email: dmitry.semenov@uef.fi
puh. 050 304 3941
Dmitry Semenov – UEF Connect
Itä-Suomen yliopisto, Tietojenkäsittelytieteen laitos
Länsikatu 15, 80110 Joensuu
Tarjoamme ellipsometrimittauksia ohuiden kalvojen rakenteiden ja optisten ominaisuuksien määrittämiseen.
Käytössämme on näkyvän alueen ja lähi-infrapunan spektraalinen ellipsometri materiaalien optisten ominaisuuksien ja ohuiden kalvojen paksuuksien mittaamiseen.
Sovelluskohteisiin kuuluvat ohuet optiset ja metalliset kalvot. Ohut kalvo tarkoittaa yleensä alle 5 mikrometrin paksuutta.
Laitteistomme kattaa
- A. Woollam VASE spektraalinen ellipsometri 260 – 2060 nm aaltopituusalueella.
Palvelumyynnissä noudatetaan Itä-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.
Yhteyshenkilö:
Pertti Pääkkönen, yli-insinööri
e-mail: pertti.paakkonen@uef.fi
puh. 050 505 6376
Pertti Pääkkönen – UEF Connect
Itä-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu
Kuvantaminen
Tarjoamme erilaisia mittaus- ja kuvantamispalveluja erityisesti biologisiin ja ympäristötieteellisiin sovelluksiin liittyen. Kattava laboratoriomme mahdollistaa mm. , spektrikuvantamisen, kineettisen klorofyllifluoresenssin kuvantamisen fotosynteesin toiminnan selvittämiseen, UV-kuvauksen ja erilaiset fluoresenssikuvausmenetelmät. Runsas valolähdevalikoima mahdollistaa mittaukset ja kuvantamisen näkyvän valon, sekä ultravioletti- ja infrapunasäteilyn aallonpituusalueilla. Sovellusalueita ovat mm. kasvien fenotyypitys ja ekofysiologiset tutkimukset, kasvien stressivasteiden selvittäminen, biopohjaisten tuotteiden tai valmisteiden laadunseuranta ja kemiallinen kuvantaminen.
Mittauslaboratorioomme kuuluvat mm. seuraavat laitteet:
- Viivaspektrikamerat Headwall UV (250 – 600 nm), Specim VNIR (400 – 1000 nm), SWIR (1000 – 2500 nm) ja MWIR (3000 – 5000 nm)
- Lämpökamerat FLIR E8
- Klorofyllifluoresenssin kuvantamis- ja mittauslaitteet PSI Closed FluorCam 800MF, Handy FluorCam FC1000H, Micro FluorCam, ja FluorPen
- Klorofylli-, flavonoli- ja antosyaani-indeksien mittauslaite Dualex Scientific+
- Muunnetut järjestelmäkamerat Nikon D7000 (näkyvä + infrapuna, 400 – 1000 nm) ja Nikon D7000 (vain ultravioletti, 300 – 400 nm)
- Motorisoitu makroskooppi Leica Z6 APO
- Fluoresenssimikroskooppi Zeiss Axioscope A1
- Herkkä EMCCD-kamera nestejäähdytyksellä (Andor iXon Ultra 888)
- sCMOS-kamera (Andor Zyla)
- Muokattu CCD-kamera UV-kuvaukseen (Andor iKon-M, 200 – 1000 nm)
- Säädettävä kapeakaistainen (15 nm FWHM 1nm askelin) Xenon-valolähde nestevalojohtimilla (338 – 700 nm + IR)
- Laaja valikoima tehokkaita UV ja Vis-LEDejä
- Erikoisobjektiiveja, kuten UV makro Nikon Rayfact 105/4.5 ja Specim OLES makro-objektiivi spektrikuvaukseen SWIR-alueella
Yhteyshenkilö:
Markku Keinänen, professori, tutkimuspäällikkö
email: markku.keinanen@uef.fi
puh. 050 4422581
Markku Keinänen – UEF Connect
Itä-Suomen yliopisto, Ympäristö- ja biotieteiden laitos (Natura)
Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu
Tarjoamme 3D-hydrofonimittauksia ultraäänikenttien yksityiskohtaisen rakenteen ja suuruuden määrittämiseen. Tarjoamme palveluita liittyen materiaalien akustiseen karakterisointiin, kuten äänennopeuden ja vaimenemisen määrittäminen.
Laboratoriomme laitteistoa ovat muun muassa:
- Moottoroitu 3D-liikutin, liikutustarkkuus mikrometriluokassa
- Hydrofoneja MHz-taajuuksille ja ultraääniantureita taajuusalueella 0.5 MHz – 12 MHz
- Ultraäänen lähetys- ja -vastaanottoelektroniikka
- Laservibrometri pintojen värähtelynopeuden ja -siirroksen mittaukseen 10 MHz taajuuteen asti
- RF-generaattoreita ja -vahvistimia
- Korkean erottelukyvyn oskilloskooppi
Lisätietoja: https://sites.uef.fi/opus/
Palvelumyynnissä noudatetaan Itä-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.
Yhteyshenkilö:
Jarkko Leskinen, projektitutkija
email: jarkko.leskinen@uef.fi
puh. 040 355 2058
Jarkko Leskinen – UEF Connect
Itä-Suomen yliopisto, sovelletun fysiikan laitos
Yliopistonranta 1 F, 70210 Kuopio
Tarjoamme luotettavia spektrikuvantamispalveluja ja tarkkoja värimäärityksiä kiinteistä näytteistä. Mittaamme näytteiden optisia valon heijastusominaisuuksia (reflektanssipektrikuvia) suurella tarkkuudella näkyvän valon ja lähi-infrapunasäteilyn aallonpituusalueilla. Osa spektrikameroistamme on kannettavia.
Asiantuntija laskennallisen spektrikuvantamisen tutkimusryhmästä suorittaa kaikki mittaukset puolestanne.
Kaikki mittaukset tehdään optisesti, joten mittaukset eivät vahingoita näytteitä. Kuvattavan näytteen tyypillinen koko: muutama cm2 – 1 m2.
Mittauksista saatavaa tietoa voidaan käyttää mm. valaistusten ja optisten filttereiden suunnitteluun, halutun kohteen optimaaliseen havaitsemiseen erilaisissa konenäkösovelluksissa, tuotteiden valon heijastusominaisuuksien määrittämiseen eri aallonpituusalueilla, sekä tuotteen värin suunnittelemiseen erilaisille havaitsijoille eri valaistuksissa.
- Specim V10E skannaava spektrikamera (skannausviiva: 2144 pikseliä; 400 – 1000 nm, 1080 spektrikanavaa)
- Specim N25 skannaava spektrikamera (skannausviiva: 320 pikseliä; 1000 – 2500 nm, 250 spektrikanavaa)
- Nuance EX kannettava spektrikamera (1392 x 1040 pikseliä; 450 – 950 nm, 51 spektrikanavaa)
- Specim IQ kannettava spektrikamera (512 x 512 pikseliä; 400 – 1000 nm, 204 spektrikanavaa)
- FluxData FD-1665-MS7 spektrivideokamera (1392 x 1040 pikseliä; 400 – 950 nm, 7 spektrikanavaa; 30 kuvaa/s)
Palvelumyynnissä noudatetaan Itä-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.
Yhteyshenkilö:
Dmitry Semenov, tutkimuspäällikkö
email: dmitry.semenov@uef.fi
puh. 050 304 3941
Dmitry Semenov – UEF Connect
Itä-Suomen yliopisto, Tietojenkäsittelytieteen laitos
Länsikatu 15, 80110 Joensuu