Mikroskopia
Mikroskopia
Mikroskooppiset mittaukset
Tarjoamme monipuolisia mikroskopiamittauksia optisiin ja mekaanisiin sovelluksiin.
Sovelluskohteisiin kuuluvat korkean resoluution pintamittaukset. Menetelmät soveltuvat senttimetrikokoisille kiinteille kappaleille.
Laitteistomme kattaa
- LEO 1550 elektronimikroskooppi (SEM)
- Leica LM DM optinen mikroskooppi
- Lukuisia Olympus-mikroskooppeja
Palvelumyynnissä noudatetaan Itä-Suomen yliopiston vuosittain tarkistettavaa hinnoittelua.
Yhteyshenkilö:
Yli-insinööri Pertti Pääkkönen
pertti.paakkonen@uef.fi
0505056376
Itä-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu